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使用X射線熒光光譜儀時避免影響測量的方法
發(fā)布時間：2019-06-13 10:11:19 點(diǎn)擊：6801
現(xiàn)場測量時性能，總會有一些原因造成誤差規劃，影響測量的效果認為，但這些因素其實(shí)可以避免技術創新，下面我們來談?wù)勗鯓诱_使用X射線熒光光譜儀顯示，避免測量誤差雙向互動。
在現(xiàn)場測量中，巖石表面凹凸不平設計能力，巖石的結(jié)構(gòu)也不同品牌，不均勻，X射線熒光光譜儀的探頭放置在上面時更為一致，同位素源于巖礦表面距離往往不能與標(biāo)準(zhǔn)測量時完全相同等形式。這種距離的變化只要毫米數(shù)量級就會引起較大的誤差，特別在測量輕元素研究與應用，中等元素時（如P,S,Ti,Cu,Fe,Zn,Cr,Mo等）飛躍，因此，進(jìn)行現(xiàn)場測量時要選擇巖石露頭比較平坦的新鮮表面積極影響，對于極不平坦的巖石露頭自動化方案，應(yīng)該人工加以整平，力求做到與標(biāo)準(zhǔn)測量條件相同重要手段。
X射線熒光光譜儀測量不平整巖石
在測量方法上互動講，應(yīng)在原來位置多次重新安放探頭，并相應(yīng)測出數(shù)據(jù)像一棵樹，取其平均值過程中，可以達(dá)到與制作標(biāo)準(zhǔn)曲線時的測量條件基本一致。因為這種因巖石表面不平整產(chǎn)生的誤差屬于偶然誤差范疇能運用，只要有足夠多次的變位測量達到，其偶然誤差的平均值將趨于零。
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