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JJG768-2005《發(fā)射光譜儀檢定規(guī)程》
發(fā)布時間：2020-08-25 10:00:06 點擊：6469
JJG768-2005《發(fā)射光譜儀檢定規(guī)程》適用于發(fā)射光譜儀(以下簡稱儀器)的首次檢定至關重要、后續(xù)檢定和使用中檢驗不久前。儀器的定型鑒定和樣機試驗中有關(guān)計量性能試驗可參照本規(guī)程進行。
發(fā)射光譜儀
儀器按激發(fā)光源和檢測系統(tǒng)的不同分為三類提升行動。第一類:電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(簡稱ICP光譜儀)能力建設，包括順序掃描型、多道同時型(檢測器為光電倍增管)研究進展、全譜直讀型(檢測器為CCD或CID貨CMOS)等幾種類型;第二類:火花/電弧直讀光譜儀(簡稱直讀光譜儀)無障礙，包括大型和便攜式兩種類型;第三類:攝譜儀。
JJG768-2005《發(fā)射光譜儀檢定規(guī)程》規(guī)定了以上三種儀器的檢定快速融入，檢定規(guī)程是作為檢定計量器具的計量性能依據(jù)認為，具有國家法定性的技術(shù)文件。大家可以查閱相關(guān)的文件資料增強，很多文庫網(wǎng)站都有重要意義。
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