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EDXRF和WDXRF的X熒光光譜儀區(qū)別在哪長期間?
發(fā)布時間:2019-05-30 09:45:44 點擊:9751
有一次遇到一個客戶信息,他想要WDXRF體系流動性,XRF的意思是x射線光譜提升,我們的儀器縮寫是EDXRF,客戶想要購買的儀器是WDXRF研究,小編百度了高效,下面給大家說下這兩種儀器的區(qū)別。
波長色散型(WDXRF)X射線熒光光譜儀和能量色散型(EDXRF)X射線是同屬于X射線熒光分析儀提高,產(chǎn)生信號的方法相同,最后得到的波譜也極為相似的特性,但由于采集數(shù)據(jù)的方式不同交流,WDXRF和EDXRF的原理和儀器結(jié)構(gòu)上有所不同,功能也有區(qū)別:
一提供堅實支撐、原理區(qū)別
X射線熒光光譜法還不大,使用X射線管發(fā)出的初級線束輻照樣品,激發(fā)各化學(xué)元素發(fā)出二次譜線信息化技術。WDXRF是用分光晶體將熒光光束色散后發揮作用,測定各種元素的特征X射線波長和強度,從而測定各種元素的含量逐步顯現。而EDXRF是借高分辨率敏感半導(dǎo)體檢查儀器與多道分析器將未色散的X射線熒光按光子能量分離X射線光譜線銘記囑托,根據(jù)各元素能量的高低來測定各元素的量,由于原理的不同自動化裝置,所以他們的儀器結(jié)構(gòu)也不同示範。
二應用前景、結(jié)構(gòu)區(qū)別
WDXRF,一般由光源(X射線管)運行好,樣品室首次,分光晶體和檢測系統(tǒng)等組成。為了準確測量衍射光束與入射光束的夾角部署安排,分光晶體系安裝在一個精密的測角儀上搖籃,還需要一龐大而精密并復(fù)雜的機械運動裝置。由于晶體的衍射生產能力,造成強度的損失標準,要求作為光源的X射線管的功率要打,一般為2—3千瓦完善好,單X射線管的效率極低大面積,只有1%的功率轉(zhuǎn)化為X射線輻射功率,大部分電能均轉(zhuǎn)化而產(chǎn)生高溫問題分析,所以X射線管需要專門的冷卻裝置(水冷或油冷)培養,因此WDXRF的價格往往比EDXRF高。
EDXRF更加完善,一般由光源(X射線管)形式,樣品室,各檢測系統(tǒng)等組成支撐作用,比WDXRF少了一個分光晶體日漸深入,由于這一特點,使EDXRF具有如下的特點:
1同時、儀器結(jié)構(gòu)簡單互動式宣講,省略了浸提的精密運動裝置,也無需精確調(diào)整模式。還避免了晶體衍射所造成的前度損失自動化,光源使用的X射線管功率低,一般在100W以下高品質,不需要昂貴的高壓發(fā)生器和冷卻系統(tǒng)不折不扣,空氣冷卻即可,節(jié)省電力資源優勢。
2高效利用、EDXRF的光源,樣品估算,檢測器彼此靠的近講理論,X射線的利用率很高,不需要光學(xué)聚集奮戰不懈,在累計整個光譜時市場開拓,對樣品位置變化不像WDXRF那樣敏感措施,對樣品形狀也無特殊要求。
3新模式、在能量色散光譜儀中實現,樣品發(fā)出的全部特征X射線光子同時進入檢測器,這樣奠定了使用多道分析器和熒光同時累計和實現(xiàn)全部能譜(包括背景)的基礎(chǔ)組織了,也能清楚地表明背景和干擾線服務體系。因此,半導(dǎo)體檢測器X射線光譜儀比晶體X射線光譜儀快而方便地完成定性分析工作搶抓機遇。
4分析、EDXRF減少了化學(xué)狀態(tài)引起的分析線波長的飄移影響。由于同時累積還減少了儀器的漂移影響全面闡釋,提高了凈計算的統(tǒng)計精度非常激烈,可迅速而方便地用各種方法處理光譜。同時累積觀察和測量所有元素引人註目,而不是按特定譜線分析特定元素領域。因此,減少偶然錯誤判斷某元素的可能性好宣講。
EDXRF和WDXRF的X熒光光譜儀區(qū)別
三註入新的動力、功能區(qū)別
考慮到各種情況,EDXRF和WDXRF的檢測限基本相同。但在(高能光子)范圍內(nèi)能量色散的分辨率好些雙重提升,在長波(低能光子)范圍內(nèi),波長色散的分辨率好些事關全面。就定性分析而言表現明顯更佳,在分析多種元素時能量色散優(yōu)于單道晶體譜儀,就測量個別分析元素而言技術節能,波長色散好些穩定發展。如果分析的元素事先不知道,用能量色散較好聯動,而分析元素已知則用多道晶體色散儀好,對易受放射性損傷的樣品共同努力,如果液體行業內卷,有機物(可能發(fā)生輻射分解),玻璃品逐漸完善,工藝品(可能發(fā)生褪色)等參與能力,用WDXRF分析特別有利。WDXRF很適合動態(tài)系統(tǒng)的研究是目前主流。如在催化促進進步,腐蝕發力,老化,磨損迎來新的篇章,改性和能量轉(zhuǎn)換等于表面化學(xué)過程有關(guān)的研究共創美好。
總之,EDXRF和WDXRF兩種儀器薄弱點,各有所有點和不足覆蓋範圍,它們只能互補,而不能替代積極性。
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