光谱分析仪_手持式光谱仪_碳硫分析仪-无锡创想分析仪器有限公司

XRD是x射線衍射光譜，（X－ray diffraction analysis)是用于測定晶體的結(jié)構(gòu)的，而XRF是x射線熒光發(fā)射譜，（X－ray fluorescence analysis)主要用于元素的定性更默契了、定量分析的，一般測定原子序數(shù)小于Na的元素培訓，定量測定的濃度范圍是常量不合理波動、微量、痕量。

光譜

X射線是原子內(nèi)層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射積極拓展新的領域，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種配套設備。晶體可被用作X光的光柵，這些很大數(shù)目的粒子（原子相對開放、離子或分子）所產(chǎn)生的相干散射將會發(fā)生光的干涉作用推進高水平，從而使得散射的X射線的強(qiáng)度增強(qiáng)或減弱。由于大量粒子散射波的疊加拓展應用，互相干涉而產(chǎn)生最大強(qiáng)度的光束稱為X射線的衍射線生產創效。

應(yīng)用已知波長的X射線來測量θ角，從而計算出晶面間距d實現了超越，這是用于X射線結(jié)構(gòu)分析新產品；另一個是應(yīng)用已知d的晶體來測量θ角去完善，從而計算出特征X射線的波長橋梁作用，進(jìn)而可在已有資料查出試樣中所含的元素。

入射X射線與原子的核外電子發(fā)生非彈性碰撞時求索，一部分能量轉(zhuǎn)移給電子讓人糾結，使它脫離原子成為反沖電子，而散射光子的能量和運動方向則發(fā)生變化穩定發展。

XRD原理是以X射線的相干散射為基礎(chǔ)基石之一，以布拉格公式2d sinθ=nλ、晶體理論增持能力、倒易點陣厄瓦爾德圖解為主要原理的共同努力；XRF原理則是以莫斯萊定律(1/λ)1/2=k(Z-S)，k,S是與線性有關(guān)的常數(shù)追求卓越。因此逐漸完善，得出不同元素具有不同的X射線（即特征線）為基礎(chǔ)對元素定性、定量分析的合理需求。

總結(jié)是目前主流，XRF熒光發(fā)射光譜和XRD衍射光譜的是兩種不同的分析方式，分析的領(lǐng)域也不同高質量。