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       平常我們所說的熒光光譜分析原理還可以應(yīng)用于，我們經(jīng)硵底只?？梢钥吹藉儗蛹夹g(shù)，在衣物扣子基礎上，在廚具上面各領域，還有金屬制品，生活方方面面都存在保持競爭優勢，鍍層技術(shù)的好壞怎么分辨新模式？要求達(dá)到了嗎？

熒光光譜分析應(yīng)用

       一般的軟件采用檢量線法 (經(jīng)過鍍層厚度校正的強度曲線)來測試鍍層厚度不容忽視，這是一種最簡單的方法組織了，沒有考慮二次熒光和鍍層元素之間的影響，準(zhǔn)確度比較差說服力，尤其對于多層和合金鍍層搶抓機遇。合金鍍層的成分含量未知或變化時，常規(guī)方法是無法準(zhǔn)確測量的表示。熒光光譜分析可以解決以上問題全面闡釋，只需少量甚至不需標(biāo)樣就可測試出鍍層厚度以及鍍層的成分。

       一個鐵鍍銅鋅再鍍錫(Sn/CuZnFe)的無標(biāo)樣測試案例:從分析結(jié)果中不難發現，不但可以知道第一鍍層Sn貢獻法治、第二鍍層CuZn的厚度,還可以知道第二鍍層銅鋅合金中Cu、Zn 各自的含量發展需要。一個鉛黃銅基材鍍錫青銅(CuSnZn/CuZnPb) 的例子:鍍層樣品中基材攻堅克難、鍍層中都含有Cu元素，根據(jù)鍍層各元素含量比例顯示，分離出基材和鍍層中Cu強度雙向互動，從而得以計算出鍍層厚度。

       檢量線法只有在待分析鍍層樣品層組分與鍍層標(biāo)樣層組分完全一致時設計能力， 計算結(jié)果才正確品牌，如果不一致，則厚度計算誤差會隨著組分差異而增大更為一致。在實際的電鍍工業(yè)中等形式，不同批次的電鍍原料其組分含量不是穩(wěn)定的，這就為用X熒光分析測厚帶來了難題。薄膜FP是通過計算相對熒光強度來計算鍍層厚度的飛躍，不需要樣品與標(biāo)樣的鍍層組分一致更高效， 大大提高了X熒光厚度分析的適用性和準(zhǔn)確性。

       對不規(guī)則形狀樣品組成部分、微小樣品的測試影響，熒光光譜分析儀是利用樣品元素強度與標(biāo)樣元素強度對比來檢測含量或者薄膜厚度的新的動力，是一種相對測試方法的過程中。這種對比法成立的前提就是要求樣品與標(biāo)樣都是光滑、平整的塊狀樣,但在實際中往往標(biāo)樣滿足而待測樣是形狀各異的廣泛關註，這就導(dǎo)致了測試誤差促進進步。獨創(chuàng)的內(nèi)標(biāo)FP法解決了這一難題,將樣品形狀對測試結(jié)果影響降低到最小。