光谱分析仪_手持式光谱仪_碳硫分析仪-无锡创想分析仪器有限公司

       在X射線熒光光譜儀出現(xiàn)后組合運用，其迅速在各種科研和工業(yè)領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用擴大。在其發(fā)展前期,主要還是應(yīng)用基本的進入當下，隨著科技的發(fā)展至關重要，在一些精度要求較高的領(lǐng)域研究與應用，例如半導(dǎo)體行業(yè)襯底表面的超薄貴金屬鍍層的檢測(cè)飛躍，痕量貴金屬元素的檢測(cè)等，傳統(tǒng)的X射線熒光光譜儀已不能滿足人們的需求全面協議。

X射線熒光光譜儀早期照射面積需20毫米以上

       為了解決這一問題重要部署，20世紀(jì)70年代出現(xiàn)了針對(duì)痕量貴金屬檢測(cè)的偏振XRF(US3944822)和全反射式XRF (DE2727505 AD)C使用偏振XRF分析樣品可顯著降低康普頓和相干散射信號(hào)。全反射XRF可以大大降低本來(lái)對(duì)痕量分析不利的X射線背景工具。DE2727505 A1中公開的全反射XRF能夠檢測(cè)硅襯底上的超薄金屬鍍層智慧與合力。

       20世紀(jì)90年代，隨著人們生活水平的不斷提高,各種貴金屬產(chǎn)品(例如首飾廣泛關註，珠寶促進進步，黃金)的消費(fèi)需求也逐年增長(zhǎng)，與此同時(shí)優勢領先，人們對(duì)貴金屬產(chǎn)品的質(zhì)量也越來(lái)越關(guān)注達到。此時(shí)，市面上已經(jīng)出現(xiàn)了一批X射線熒光光譜儀不可缺少，但是上述市場(chǎng)上出售的X射線熒光光譜儀要求被分析的樣品應(yīng)具有平坦而均勻的被照射面積蓬勃發展，才能獲得可靠而精確的結(jié)果。這些光譜儀的照射面積比較大(一般直徑20毫米以上)積極回應，然而重要性，很多貴金屬產(chǎn)品，例如金銀項(xiàng)鏈,鉑金鉆戒等都比較精致多種場景，形狀結(jié)構(gòu)復(fù)雜多元化服務體系，有的還鑲嵌珠寶或其他合金，因此擴大公共數據，使用這類X射線熒光光譜儀難以對(duì)首飾等貴金屬產(chǎn)品進(jìn)行可靠的分析深度。