光谱分析仪_手持式光谱仪_碳硫分析仪-无锡创想分析仪器有限公司

產(chǎn)品概述

PRODUCT OVERVIEW

? CX-9600臺式光電直讀光譜儀可測定包括痕量碳（C）研究，磷（P）,硫（S）元素,適用于多種金屬基體不久前，如：鐵基範圍，鋁基數字化，銅基覆蓋範圍，鎳基優化程度，鉻基，鈦基奮勇向前，鎂基不斷豐富，鋅基，錫基和鉛基規劃。全譜技術(shù)覆蓋了全元素分析范圍擴大公共數據，可根據(jù)客戶需要選擇通道元素。

? 分析速度快捷帶動擴大，20秒內(nèi)測完所有通道的元素成分核心技術體系。針對不同的分析材料，通過設(shè)置預(yù)燃時(shí)間及標(biāo)線持續發展，用短時(shí)間達(dá)到優(yōu)分析效果必然趨勢。

? 光學(xué)系統(tǒng)采用真空恒溫光室， 激發(fā)時(shí)產(chǎn)生的弧焰由透鏡直接導(dǎo)入真空光室擴大，實(shí)現(xiàn)光路直通,消除了光路損耗多樣性，提高檢出限，測定結(jié)果準(zhǔn)確進行探討，優(yōu)秀重現(xiàn)性及長期穩(wěn)定性落到實處。

? 特殊的光室結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，使真空室容積更小技術創新；自動光路校準(zhǔn)處理方法，光學(xué)系統(tǒng)自動進(jìn)行譜線掃描，確保接收的正確性持續向好，免除繁瑣的波峰掃描工作習慣。儀器自動識別特定譜線，與原存儲線進(jìn)行對比進展情況，確定漂移位置的積極性，找出分析線當(dāng)前的像素位置進(jìn)行測定；

? 開放式的電極架設(shè)計(jì)至關重要，可以調(diào)整的樣品夾不久前，便于各種形狀和尺寸的樣品分析。

? 工作曲線采用國際標(biāo)樣提升行動，預(yù)做工作曲線能力建設，可根據(jù)需要延伸及擴(kuò)展范圍，每條曲線由多達(dá)幾十塊標(biāo)樣激發(fā)生成研究進展，自動扣除干擾無障礙；HEPS數(shù)字化固態(tài)光源，適應(yīng)各種不同材料

? 固態(tài)吸附阱快速融入，防止油氣對光室的污染善於監督，提高長期運(yùn)行穩(wěn)定性；銅火花臺底座就能壓製，提高散熱性及堅(jiān)固性能更合理。

? 合理的氬氣氣路設(shè)計(jì)，使樣品激發(fā)時(shí)氬氣沖洗時(shí)間縮短更優美，為用戶節(jié)省氬氣有所應。

? 采用鎢材料電極，電極使用壽命更長合作關系，并設(shè)計(jì)了電極自吹掃功能著力提升，清潔電極更加容易。

? 高性能DSP及ARM處理器傳遞，具有高速數(shù)據(jù)采集及控制功能并自動實(shí)時(shí)監(jiān)測光室溫度融合、真空度、氬氣壓力相關性、光源完成的事情、激發(fā)室等模塊的運(yùn)行狀況。

? 儀器與計(jì)算機(jī)之間采用以太網(wǎng)連接穩定，抗干擾性能好改造層面，外部計(jì)算機(jī)升級與儀器配置無關(guān)，使儀器具有更好的適用性。

? 核心器件全部原裝進(jìn)口經驗分享，保證了儀器品質(zhì)解決方案。 CCD/CMOS全譜光譜儀制造技術(shù)（數(shù)字化技術(shù)替代老式體積龐大笨重的光電倍增電子管模擬技術(shù)）、通道不受限制 有力扭轉；無須變動增加硬件上高質量，基體范圍內(nèi)通道改變增加不需費(fèi)用，同一樣品不同的時(shí)間段分析廣度和深度，可獲得良好的數(shù)據(jù)一致性深入交流；體積小、重量輕加強宣傳， 移動安裝方便 臺上與臺下；高集成度、高可靠性技術發展、高穩(wěn)定性 品牌。

技術(shù)參數(shù)

TECHNICAL PARAMETER

*以客戶定制要求為準(zhǔn)，以實(shí)物為準(zhǔn)提供有力支撐，網(wǎng)上內(nèi)容為基礎(chǔ)配置，僅供參考建議。

應(yīng)用范圍

PRODUCT APPLICATION

CX-9600全譜直讀光譜儀采用光電直讀光譜技術(shù)品率，應(yīng)用于冶金、鑄造不斷發展、機(jī)械積極影響、汽車制造、航空航天緊密協作、兵器越來越重要、金屬加工等領(lǐng)域的生產(chǎn)工藝控制，爐前化驗(yàn)發揮重要作用，中心實(shí)驗(yàn)室成品檢驗(yàn)醒悟。 CX-9600全譜直讀光譜儀體積小、穩(wěn)定性好高質量、檢測限低也逐步提升、分析速度快、運(yùn)行成本低註入了新的力量、操作維護(hù)方便重要的作用，是控制產(chǎn)品質(zhì)量的理想選擇。