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展望X射線光譜儀的原理和發(fā)展
發(fā)布時間:2020-10-16 12:49:12 點擊:4545
物質(zhì)的組分和結(jié)構(gòu)分析是現(xiàn)代科學認知物質(zhì)世界的重要手段綜合運用,傳統(tǒng)的化學分析法供給、等離子休發(fā)射光譜法、紅外光譜法實事求是、拉曼光譜法等分析方法或因分析速度慢進行探討、造價高昂組織穿透性弱等弱點而使應用受到限制。
X射線光譜儀法以其分析速度快服務水平、非破壞性最新、分析元素范圍廣、分析含量范圍廣規則製定、分析精度高製造業、制樣方法簡單樣品形態(tài)不受約束等優(yōu)異特性,在組分和結(jié)構(gòu)分析中占據(jù)了愈發(fā)重要的地位,甚至在某些方面取代了上述傳統(tǒng)分析方法,廣泛應用于物理關規定、化學新格局、材料、生物安全鏈、醫(yī)學、天文創新為先、環(huán)境真正做到、考古、工業(yè)生產(chǎn)等領域創新延展。隨著電子技術(shù)強化意識、真空技術(shù)、光學技術(shù)基本情況、計算機技術(shù)的發(fā)展, X射線光譜儀技術(shù)獲得了巨大突破,其分析儀器不斷朝著小型化現場、多功能化、智能化方向發(fā)展力量,并不斷產(chǎn)生了新技術(shù)和新分支,豐富著X射線熒光光譜儀家族體系我有所應、拓寬著應用領域提單產。
元素特征X射線的頻率與原子序數(shù)的二次冪成線性關系,且特征X射線的強度與元素的含量正相關。當被測樣品受到足夠高能量的光子或粒子照射時至關重要,各元素原子的內(nèi)殼層電子被電離形成空穴發展空間,較高能級的電子自發(fā)向內(nèi)層躍遷填充空穴,使原子恢復到低能態(tài),同時輻射出具有特定能級差的X射線稱之為特征X射線。每種元素都具有其特定波長的X射線,通過測定樣品中元素相應的特征譜線及其強度就可以對元素進行定性定量分析有所應。
按色散的不同, X射線光譜儀可分為.波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀( EDXRF)足了準備;按激發(fā)條件的不同,可分為全反射X射線熒光光譜儀(TXRF)著力提升、偏振X射線熒光光譜儀( P-EDXRF)深刻內涵、微束X射線熒光光譜儀(μ -XRF)、質(zhì)子激發(fā)X射線熒光光譜儀( PIXE)融合、同步輻射X射線熒光光譜儀(SRXRF)等;按應用場合的不同深入闡釋,可分為現(xiàn)場X射線光譜儀和在線X射線光譜儀等。
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