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WDXRF波長色散熒光光譜儀器的組成結(jié)構(gòu)

發(fā)布時間:2020-10-19 09:37:55         點擊:4709

       WDXRF波長色散熒光光譜儀器一般由光源、分光系統(tǒng)(分光晶體設計標準、測角儀雙重提升、準(zhǔn)直器)新模式、檢測系統(tǒng)(探測器數據、數(shù)據(jù)記錄處理系統(tǒng))組成創新的技術。由光源激發(fā)出試樣中各元素的特征X射線后經(jīng)過準(zhǔn)直器投射到安裝顯著。

       在測角儀上的分光晶體上快速增長,分光晶體由測角儀驅(qū)動將各特征線進(jìn)行衍射占,再逐一進(jìn)入探測器中初步建立,最后由數(shù)據(jù)記錄處理系統(tǒng)根據(jù)波長和強度分析元素的種類和含量。

       WDXRF波長色散熒光光譜儀器一般分為順序式和同時式兩種順序式通過掃描方法對元素逐個測量,可較為方便地改變測量條件和各類參數(shù),能夠測量‘Be’U的所有元素,測量速度一般較同時式慢,適宜于科研和多用途工作供給;同時式包含多個固定道的方法,每一道只測量一種元素可對所有固定道的元素同時測量,測量速度快于順序式進行探討,適宜于快速和相對固定的分析工作落到實處。

WDXRF波長色散熒光光譜儀器的組成結(jié)構(gòu)

創(chuàng)想WDXRF波長色散熒光光譜儀器的組成結(jié)構(gòu)

       光源一般采用X射線管,可產(chǎn)生連續(xù)譜和疊加的特征譜強度高再獲、穩(wěn)定性好產品和服務、功率連續(xù)可調(diào)適宜于多元素激發(fā)應用擴展,X射線管的發(fā)展主要體現(xiàn)在減薄鈹窗的厚度體驗區、減小源樣距離及小功率化3個方面超薄窗、超尖銳X射線管的應(yīng)用縮短了陽極靶到樣品的距離活動上,鈹窗厚度從125 pμum逐步減小到75有望、50甚至30 μum(如日本理學(xué)ZXS Primus II型光譜儀即采用30 μum超對于某些需求大功率X射線管的特殊場合(如醫(yī)學(xué)診斷中的X射線成像)導向作用,常規(guī)X射線管由于受制于散熱問題通常只能達(dá)到幾kW的功率,不能滿足應(yīng)用需求方案,因此應(yīng)運而生出了液體金屬陽極X射線管和旋轉(zhuǎn)陽極X射線管液體金屬陽極X射線管在陰極施加負(fù)高壓,當(dāng)聚焦電子束穿過電子窗打擊液體金屬時激發(fā)出X射線十大行動,產(chǎn)生的熱量被高速流動的金屬迅速帶走左右,并被熱交換器冷卻150 kV電壓下功率可達(dá)20kW綜合措施;旋轉(zhuǎn)陽極X射線管能夠提供更高的功率可靠保障,通常在20~50 kW,但由于其散熱效率較低自然條件,不適合長時間連續(xù)工作。

       分光晶體可分為平而晶體開展、彎而晶體及近些年發(fā)展起來的人工合成多層膜晶體互動互補。平面晶體的結(jié)構(gòu)和幾何光學(xué)均較為簡單,但衍射強度和分辨率稍遜于彎面晶體,一般用于順序式波長色散儀。彎面晶體由彈性較好的晶體在彈性形變內(nèi)進(jìn)行彎曲或塑性形變制成意向,有效立體角較大意料之外,能接受更多的輻射光子,因此靈敏度較高形式,常用于同時式波長色散儀,亦有見于應(yīng)用在順序式波長色散儀上的報道置之不顧。

人工合成多層膜晶體使用低原子序數(shù)和高原子序數(shù)元素的物質(zhì)交叉沉積在基體材料上,可人工控制品格間距,提高了分光晶體的衍射率數字化、抑制了高次線的干擾,大幅提升了對超輕元索的檢測能力,常用的有W/Si W/C快速融入、Mo/B4C等。傳統(tǒng)的測角儀由齒輪進(jìn)行傳動,體積大掃描速度慢系統、定位精度較低增強,新型光學(xué)定位測角儀的定位精度可達(dá)+0.000 1° ,定位重復(fù)性可達(dá)0.0001°,2θ掃描速度可達(dá)0.001° ~1.27%/s,定位轉(zhuǎn)動速度可達(dá)80%/s。分光晶體和測角儀的革新,大大縮減了WDXRF的體積交流等、降低了對X射線管的功率需求更加廣闊。

       WDXRF常用氣體正比計數(shù)器( PC)和閃爍體計數(shù)器( SC)。氣體正比計數(shù)器有流氣式(F- PC)和封閉式(S - PC)兩種提高。流氣式的改進(jìn)主要是解決芯線污染和變形對譜線的影響以及氣體密度對計數(shù)器穩(wěn)定性的影響”;封閉式的分辨率過低,而溫差電冷型能量探測器已實用化,導(dǎo)致了其已被逐步淘汰可以使用。

       探測器自身的改進(jìn)及多道分析器( MCA)在探測器中的集成,不僅大大增加了接收光子的數(shù)量51,還能有效地扣除高次線并消除晶體熒光干擾,且可同時處理不同幅度的脈沖信號,記錄時間加快了100倍了,在保證同樣分析精度的前提下,元素測定時間縮短了近10,極大地提高了分析效率紮實。

 

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